détection du plomb par fluorescence X (XRF)

Le principe de la fluorescence X consiste à exciter un substrat à l'aide d'un rayonnement énergétique. L'analyse des raies spectrales du rayonnement (fluorescence) réémis par le substrat permet d'identifier les éléments chimiques le composant. Les appareils de détection portatifs mettent en oeuvre ce principe pour déterminer la concentration en plomb d'un revêtement.

étalonnage du détecteur

appareils à source radioactive et à tube

Il existe 2 types d'appareils à fluorescence X :
- les appareils à source radioactive (tel le Niton XL-300 utilisé par Tekimmo),
- les appareils à tube.

L'utilisation de ces derniers, qui n'excitent que la raie L du spectre du Plomb, est interdite pour réaliser un Constat d'Exposition au Plomb par arrêté du 25/04/2006, suite aux essais menés par le LNE (compte-rendu pdf) et l'AFSSE (Agence Française de Sécurité Sanitaire Environnementale).